超高頻電子標籤的外觀看似簡單，其實不然，每一個電子標籤從生產到出庫都需經過很多工序，並且每個工序都必須嚴格控制，才能使成品標籤滿足設計要求和客戶使用需求。今天和大家一起學習超高頻標籤檢測技術環節中關於CISC RFID Xplorer軟體（CISC, VBL, SITTERA, IRIS,XMINNOV ）將如何應用呢？
1、CISC RFID Xplorer設備部件及測試環境
CISC RFID Xplorer設備的部件包含檢測天線、放置平台、角靈敏度旋轉器、支架、被測標籤。測試環境是專業大型RFID微波暗室。
2、標籤的頻點靈敏度測試方法
在CISC RFID Xplorer的軟體里先導入跟晶元協議對應的參數配置和標籤要測試的頻率範圍參數。
被測標籤要放置在距檢測天線50cm處的放置平台上，選擇Frequency Sweep即可啟動軟體測試標籤的性能曲線。測試結果例如圖1。可通過軟體中的坐標曲線，能明確的知道該標籤中心點在哪個頻點，且該頻點的性能是多少。
圖1
點軟體里Display Metric里的Read Range(m) 功能，就可以根據上面的性能曲線軟體自動模擬出該標籤在各個頻點的讀取距離，例如圖2
圖2
3、標籤的角靈敏度測試方法
角靈敏度測試方法的軟體設置參數和標籤放置位置同頻點靈敏度測試方法一樣，然後選擇Orientation Sweep即可啟動軟體開始測試。測試結果例如圖3。從圖中可以知道標籤在不同角度讀取時，讀取距離是不一樣的。可以幫助我們更好的避免操作人員貼標時的誤操作。
圖3
結論
通過CISC RFID Xplorer軟體可以非常有效的測試出超高頻標籤的各項性能指標，對產品的質量管控和天線的設計研發有非常大的幫助。
廈門英諾爾信息科技有限公司對產品的要求和把控極其嚴格，所有產品出庫前都會經過嚴格的質量檢測，除了應用CISC RFID Xplorer軟體檢測外還配合性能檢測設備，以此來保障超高頻電子標籤性能及質量，真正做到滿足客戶需求。
依靠不斷創新，英諾爾已成為國內為數不多的擁有 「一站式」電子標籤解決方案能力的物聯網企業，從標籤選型、天線設計、天線製造、晶元封裝、二次複合、模切成型、個性化打碼、性能檢驗及數據初始化等實現「一站式」服務，已為國內外眾多優秀的系統解決方案商提供一流的產品與服務。
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